Основы кристаллографии
Е.В. Чупрунов, А.Ф. Хохлов, М.А. Фаддеев
Последовательное изложение основ геометрической кристаллографии - аналитической геометрии кристаллических решеток, теории точечных групп симметрии, правильных систем точек, граней и других симметричных объектов, решеток Бравэ, пространственных групп симметрии, теории плотнейших упаковок. Рассматриваются также основы кристаллохимии и основные представления геометрической теории дефектов в кристаллах.
Categorías:
Año:
2004
Editorial:
Физматлит
Idioma:
russian
Páginas:
500
ISBN:
5940520601
Archivo:
PDF, 23.25 MB
IPFS:
,
russian, 2004